Système X-Cite de mesure optique
Description
Le système X-Cite de mesure optique maximise la répétabilité et assure l'intégrité des données grâce à sa formidable puissance de lecture.
Conçu spécialement pour la microscopie par fluorescence et compatible pour la mesure de lampes à arc, lasers et LED, ce système englobe une large fourchette dynamique dans un seul appareil, et interagit facilement avec un PC pour capturer configurations et données.
Le système se compose du radiomètre X-Cite XR2100 et du capteur de puissance X-Cite XP750
Applications
Prise de mesures de puissance au niveau de l'échantillon en microscopie par fluorescence
Spécifications
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X-Cite XR2100 |
X-Cite XP750 |
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Puissance |
50 mW – 10 W |
5 mW – 500 mW |
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Spectre |
340 nm – 675 nm |
320 nm – 750 nm |
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Résolution |
0.1 mW – 0.01 W |
0.01 mW – 1 mW |
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Délai de réponse |
1 sec |
600 ms – 3 sec |
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